高溫老化試驗(yàn)箱技術(shù)協(xié)議

※產(chǎn)品用途介紹

用途：高溫老化箱適用于對大型電工電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高溫恒溫試驗(yàn)或恒定試驗(yàn)，模擬溫濕度變化條件下對產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行質(zhì)量及可靠性測試。

※產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)

1、內(nèi)部有效尺寸：500*600*750mm

2、溫度范圍：50℃～250℃（任意調(diào)節(jié)）

3、溫度均勻度(空載時(shí))：≤±2℃

4、溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

5、升溫速率：≥3℃/min（空載時(shí)）

6、電源及功率：AC220V±10%，50HZ   

※滿足標(biāo)準(zhǔn)

本設(shè)備制造滿足：  GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GJB 150.3-1986   高溫試驗(yàn)

GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

※箱體結(jié)構(gòu)及主要性能保證

1、整個(gè)箱體外殼均應(yīng)美觀耐腐蝕；試驗(yàn)室內(nèi)壁材料必須選用防腐蝕、防銹材料，結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理、制造工藝精良、內(nèi)外表美觀。依試驗(yàn)室溫度要求，保溫層厚度為100mm。

2、外殼采用冷軋板噴塑，內(nèi)膽為不銹鋼.

3、箱內(nèi)后部設(shè)有空氣調(diào)節(jié)系統(tǒng)，箱內(nèi)后部裝有可調(diào)式送風(fēng)裝置。

4、門與門框之間采用進(jìn)口密封材料及獨(dú)特的硅膠密封結(jié)構(gòu)，必須保證良好的密封性能。

5、箱內(nèi)風(fēng)道采用上出風(fēng)、下進(jìn)風(fēng)，應(yīng)能保證試驗(yàn)箱的溫度均勻性。

6、防凝露帶導(dǎo)電膜中空玻璃視窗及耐高低溫的歐司朗照明裝置，安裝于箱門中部，能清晰觀察到內(nèi)部試驗(yàn)物品在試驗(yàn)過程中的變化。

7、出風(fēng)口為不銹鋼可調(diào)百葉式出風(fēng)口。

8、加熱器需選用升溫快，壽命長的材料。

9、試驗(yàn)箱內(nèi)部配有樣品支架，根據(jù)客戶要求配有2幅支架。

※空氣循環(huán)系統(tǒng)

風(fēng)道系統(tǒng)位于試驗(yàn)箱后部的夾層，其內(nèi)分布加熱器、風(fēng)葉、等裝置。當(dāng)風(fēng)機(jī)高速旋轉(zhuǎn)時(shí)，將外部工作室中空氣吸入風(fēng)道內(nèi)，與加熱器產(chǎn)生的熱量從風(fēng)道吹出，在工作室中與試品進(jìn)行熱交換，熱交換后的空氣再被吸入風(fēng)道內(nèi)進(jìn)行混勻；反復(fù)循環(huán)，從而達(dá)到目標(biāo)溫度要求，同時(shí)保證試驗(yàn)箱內(nèi)獲得較高的溫度均勻度指標(biāo)。

※控制系統(tǒng)

1、控制系統(tǒng)選用高精度日本富士溫控儀，儀表的精度等級(jí)為0.3級(jí)以上，采樣周期小于250ms。具有自由輸入，PID自整定，多種報(bào)警等功能。

2、試驗(yàn)箱有定時(shí)的功能，定時(shí)時(shí)間:0—99小時(shí)    

※**保護(hù)裝置

1、具備電源缺相、錯(cuò)相、電壓不穩(wěn)定保護(hù)；

2、具備加熱器短路保護(hù)功能；

3、具備漏電/斷路保護(hù)功能；

4、具備工作室溫度超調(diào)保護(hù)（二級(jí)溫度保護(hù)）；